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场发射透射电子显微镜

发布时间:2011/9/27  发布者:  浏览次数:6522
设备名称:场发射透射电子显微镜
规格型号:JEM-2100F 
制造商:日本电子(JEOL      
主要技术指标
1.点分辨率: 0.23nm
2. 线分辨率: 0.102nm
3.扫描透射分辨率:0.20nm
4.加速电压:80kv-200kv
主要附件
Gatan 832CCD相机、牛津 IET200 X射线能谱仪、双倾样品杆,铍双倾杆、扫描透射、HADDF探头
制样设备
超薄切片机
主要功能
1.   微结构研究:材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析,包括衍衬成像,电子衍射,高分辨分析;
2.    材料微观结构成分研究:成分的定性和半定量分析,元素的点、线和面分析,材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析。
应用范围
        金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等纳米尺度的微分析包括一般的透射成像、电子衍射、高分辨透射成像、扫描透射STEM成像、会聚束衍射、能谱分析等。

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