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资产编号 |
NERCN-TC-010-1 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
TEM |
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规格/型号
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*/JEM-2100F |
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生产厂商 |
JEOL |
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国别 |
日本 |
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所属单位 |
分析测试中心>>2-106 |
放置地点 |
2-106(2-106) |
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负责人 |
洪周琴 邮箱：暂无
洪周琴 邮箱：暂无
施妍玲 邮箱：暂无
方立文 邮箱：暂无 |
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使用日期 |
2010/3/2 |
电子邮箱 |
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性能指标 |
1.加速电压：200kv；
2.束斑尺寸：小于0.5nm
3.点分辨率：0.23nm；
4.线分辨率：0.102nm；
5.扫描透射分辨率：0.20nm；
6.倾斜角 25°。
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主要应用 |
可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。
1.样品的普通形貌观察；
2.晶体材料的高分辨晶格条纹分析；
3.晶体材料的电子衍射分析；
4.样品的成分分析：能谱和STEM；
5.合金的形貌和成分分析：HADDF、NBD；
6.双倾杆：可以对晶体的其中一个面进行晶体结构分析。
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样品要求 |
样品不得具有磁性，并且不易被磁化；透射电镜能够观察200nm以下的样品；对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分正反面；对于块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下；高分辨样品要求厚度在10nm以下。
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仪器说明 |
JEM-2100F配备超高分辨极靴，点分辨率0.20纳米。利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构，同时配有STEM、双倾杆和能谱附件分析样品的成分及分布情况，通过CCD数字成像系统记录样品的各种信息。
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| 学习资料 |
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